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随着数字电路测试系统测试速度的不断提高,测试周期越来越短,测试系统本身各种时间参量上的指标也随之不断提高。高端系统的边沿置放精度已经能达到百皮秒级。为了更准确地评估测试系统时间参量上的性能,分析了数字集成电路测试系统管脚时间同步误差形成的原因,并介绍了一种以时域反射技术（TDR）为基础的解决方法。