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当今应用民电路在测试13.56MHz的非接触式应用芯片时,通常要在探针卡和器件接口板上增加很多外围电路,这限制了并行测试最多只能达到1到2路。我们在这里将讨论新的测试方案,新的测试方案体现在标准的自动测试设备中,直接通过天线的两脚进行高达32路的真实并行测试,并且无需附加外围电路。这种新的测试方案大幅度提高了产品质量及产量。