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X射线荧光光谱分析法的工作原理是借助原级X射线光子或者其他微观粒子激发被检测物质中的原子,使其产生荧光X射线(也称二次X射线),对待检测物质的化学成分进行定性、定量分析。该方法相较于传统化学分析方法理论上具有更高的检测准确度和检测效率。目前常用的X射线荧光光谱法分析法主要包括玻璃熔片法、粉末压片法、钴内标法,前两种方法的实际检测精度不如化学分析法。因此,本文通过试验研究了钴内标X射线光谱分析方法在铁矿石检测中的应用,旨在为相关工作提供参考。