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在射频消融旁道中我们模索出“窦－室－窦”标测法（ＳＶＳ）＞采用ＳＶＳ的３３例旁道消融全部成功，插入导管平均２．４根，放电次数平均６．９次，１０次以内放电成功率７８．８％，操作总时间平均１．７ｈ，均显著优于未采用ＳＶＳ的另４３例（Ｐ＜０．０５）。此结果表明，采用ＳＶＳ可使射频消融旁道术插入较少的导管，以最短的时间和最少的放电次数获得成功。