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电子仪器的屏蔽腔体由于散热、通信的需要往往有大量的孔缝。本文介绍了分析屏蔽腔体的电磁泄漏和对外界电磁辐射的屏蔽效能的模型。利用这两种模型，基于时域有限差分（FDTD）算法，分别计算了带有孔阵列的金属屏蔽腔体的电磁泄漏和在外界高斯脉冲照射下的电磁屏蔽效能。通过对总面积相等的不同类型孔阵列的仿真计算结果的对比，得出圆形孔阵列具有最好的屏蔽效果。对于总面积相等的同类型孔阵列的计算结果表明，孔的尺寸越小，其阻止电磁泄漏和对外界电磁辐射的屏蔽能力越强。通过计算，还分析了双层孔阵列的屏蔽效能以及层间距对屏蔽效能的影响