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上世纪90年代,斯伦贝谢公司推出了全井眼地层微电阻率扫描成像仪,其扫描所获得的FMI(Formation Micro Imager)图像很好地反映了岩石的地质结构,但是,在FMI图像自动识别领域中,由于图像的复杂性,其边缘特征应用一直很少。本文通过对FMI图像的分析,讨论了其分形特征提取方法及应用的可行性。本文关注FMI图像的结构特征,并基于此初步研究其边缘特征提取方法。