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利用强流脉冲电子束技术对AISI 304奥氏体不锈钢进行辐照处理，采用透射电子显微镜详细地分析了辐照诱发的空位簇缺陷结构。1次辐照未产生空位簇缺陷结构；5、10次辐照后诱发大量的空位簇缺陷结构，缺陷尺寸通常小于10nm，随辐照次数增加，缺陷簇数量明显增加，但尺寸增加不明显；小缺陷簇主要由空位型位错圈和少量的堆垛层错四面体（SFT，stacking fault tetrahedral）组成，SFT占整个缺陷簇的比例低于1％；少量的孔洞缺陷在孪晶片附近出现。10次辐照后，孪晶片前沿或附近形成大量的大尺寸SFT