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针对集成电路测试数据的特点，提出一种改进FDR压缩、解压算法，它采用对预先计算的测试集中的“0”和“1”的长度进行交替编码的方式来压缩测试集，提高了编码效率．提出的测试数据压缩方案的解码器硬件结构非常简单，并提出了一种基于有限状态机的FDR解压缩算法的实现方案，只需极少的电路资源即可实现．仿真实验结果表明，改进FDR编码算法的数据压缩效果在大多数情况下，优于游程编码和FDR编码．