Lab Windows/CVI在涂镀层测厚系统中的应用

来源 :核电子学与探测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:abcdewwy
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针对目前涂镀层测厚系统存在的问题,由于虚拟仪器具有传统智能仪器无法比拟的优势,论文提出了基于虚拟仪器涂镀层测厚数据采集系统的设计思想。简要对涂镀层测厚系统进行了硬件设计,主要讨论以微控制器(ARM)为核心的涂镀层测厚系统的设计。特别讨论虚拟仪器的数据采集系统的设计。通过虚拟仪器能够实现对工作现场生产过程的实时监控、数据传输、实时处理、厚度曲线显示。该系统较好完成了涂镀层厚度中重要参数的实时全程控制,并且具有显示直观、反应迅速,性价比高等特点,因此具有一定的使用价值。
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