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８Ｏ３１单片机控制的７４系列集成电路测试仪清华大学电机系林伟军，唐庆玉，梁作清，曹宇一、可行性分析由于７４系列集成电路各方面的综合优势，在使用中非常广泛，但是其损坏之事时有发生，所以迫切需要有一种测试仪器，能快速测试其逻辑功能以判断是否好坏。对７４系...
8O31单片机控制的74系列集成电路测试仪
【摘 要】
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８Ｏ３１单片机控制的７４系列集成电路测试仪清华大学电机系林伟军，唐庆玉，梁作清，曹宇一、可行性分析由于７４系列集成电路各方面的综合优势，在使用中非常广泛，但是其损坏之事时有发生，所以迫切需
【机 构】
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清华大学电机系
【出 处】
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中国仪器仪表
【发表日期】
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1994年6期
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