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静态随机存储器（SRAM）应用广泛，必须充分测试以保证其高可靠性；应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试，分析SRAM功能结构并建立测试模型；以HY6264SRAM存储器为被测对象进行DEMO板可测性设计，应用TCL，语言描述其测试信息；实验证明，该方法可完成对SRAM外围线（包括控制线、数据线和地址线）和存储单元的测试与故障诊断，结果正确且诊断定位具体，具有较好的应用前景。