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本文利用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）进行了１２种有机锡化合物。通过ＸＰＳ和ＭＳ讨论了化合物中取代基对锡内层电子的影响及对Ｓｎ－Ｏ键的影响。结果表明ＸＰＳ和ＭＳ对有机锡化合物某些化学性质的讨论具有互补性。
有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ
【摘 要】
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本文利用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）进行了１２种有机锡化合物。通过ＸＰＳ和ＭＳ讨论了化合物中取代基对锡内层电子的影响及对Ｓｎ－Ｏ键的影响。结果表明ＸＰＳ和ＭＳ对有机锡化合物某些化学性质的讨论具有互补性。
【机 构】
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中国科学院长春应用化学研究所,东北师范大学化学系
【出 处】
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光谱学与光谱分析
【发表日期】
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1999年2期
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