论文部分内容阅读
针对8位微控制器（MCU）数据通道中桶形移位器的可测试性问题，提出了一种新颖的确定性内置自测试（BIST）电路设计方案，并对其进行了验证。该方案采用5个D触发器，在16个测试时钟周期内产生16个测试矢量，可完成对8位桶形移位器100％故障覆盖率测试。本论文的电路设计方案也可应用于一般2^N位（N≥4）桶形移位器的可测试设计。