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半导体测试公司惠瑞捷半导体科技宣布将可编程接口矩阵应用于Verigy V5000e 工程工作站，以帮助存储器制造商在应用V5000e进行工程，测试开发和调试时获得并行测试能力。凭借该矩阵，V5000e可以并行测试12颗芯片（DUT），减少产线上的操作人员的时间，同时大幅度提高了总产能。此矩阵还将V5000e的引脚数量从128提高到768个测试器资源引脚，从而能够测量具有更高引脚数量的多种类型存储器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。
由于产品寿命周期不断缩短，制造商需要将测试开发时间降至最低。同时，各种存储器芯片在测试平台上有了更多的融合。为了应对测试所有这些类型芯片所面临的挑战，制造商需要面向工程开发的测试系统具有并行能力和灵活性。然而，在工程开发的环境下，如果使用成熟的面向大规模生产的测试系统既不能节省成本，通常也不符合实际。配备了矩阵的V5000e 就可以应对这些挑战，降低测试开发时间。
此矩阵最初的设计目的是为了在最终产品测试阶段降低测试成本，到目前为止，此矩阵仅配备在Verigy V5500 最终测试系统上。惠瑞捷开发出应用于V5000e的新版本的矩阵，以满足在测试开发设置方面对强大且灵活的解决方案日益增长的需求，这些解决方案可以处理多种存储器类型，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。V5000e于2005年开始供货。
由于产品寿命周期不断缩短，制造商需要将测试开发时间降至最低。同时，各种存储器芯片在测试平台上有了更多的融合。为了应对测试所有这些类型芯片所面临的挑战，制造商需要面向工程开发的测试系统具有并行能力和灵活性。然而，在工程开发的环境下，如果使用成熟的面向大规模生产的测试系统既不能节省成本，通常也不符合实际。配备了矩阵的V5000e 就可以应对这些挑战，降低测试开发时间。
此矩阵最初的设计目的是为了在最终产品测试阶段降低测试成本，到目前为止，此矩阵仅配备在Verigy V5500 最终测试系统上。惠瑞捷开发出应用于V5000e的新版本的矩阵，以满足在测试开发设置方面对强大且灵活的解决方案日益增长的需求，这些解决方案可以处理多种存储器类型，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。V5000e于2005年开始供货。