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半导体测试时间直接影响到整个半导体测试的成本,文章提出了一种缩短半导体测试时间的新方法——并发测试。并发测试技术可以在保证测试覆盖率的前提下显著地缩减测试时间,提高半导体测试设备硬件资源的利用率。文章分析了实现并发测试需要的先决条件,阐述了应用并发测试方法的实现流程,并给出了应用并发测试方法节省测试时间的实例。