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TN模式的电荷累积缺陷，是液晶显示器生产中一个相当棘手问题。由于累积电荷量难于定量测量来进行研究，所以该问题一直悬而未决。着重分析了液晶显示器电荷累积缺陷，发现当它们介电常数与电导率的比值相差越大，电荷积累值越大；当取向层的介电常数与电导率的比值和液晶的不相等时，二者的交界面将产生电荷积聚；并且发现当取向层的介电常数与电导率的比值和液晶的相等时，二者的交界面将不产生电荷积聚，图像残留、显示速度减慢等问题也就可以消除。