本文提出一种算法,用于半导体随机线选法存储系统中检测和诊断地址寄存器、译码器和数码寄存器等各种固定性故障。应用一个外加测试器,它只通过公共的控制信号、电源线、地址寄存器和数码寄存器与存储系统联系,也就是说测试系统不可能访问存储系统其他部分时可应用此算法。当测试系统的部件（地址寄存器,译码器等）时,不需要假定未经测试的部件无故障。详细地讨论了因故障屏蔽所引起的问题。同时这个分析也允许有故障时同时存取二个或更多的字的情况。要区分故障和失效两个不同的概念,逻辑门和位线等处于死1或死0状态称为故障,因固定逻辑故障引起存储器不能正常工作称为失效,地址寄存器测试算法串行逐位地对地址寄存器的每一位进行测试,而对一个 n 位的地址寄存器进行完全测试要求取数约7n 至10n 次。算法要求至少存在一个功能存储位线和一个地址寄存器位的组合,并且当出现多重故障时该算法仍有效。虽然与某一地址寄存器位相连接的译码器和存储元件的故障综合,恰好与这一地址位的故障现象相同,因而可能屏蔽这一无故障的地址位,但仍有可能正确诊断地址位的故障。译码器测试算法检验2n 根译码输出线,且能决定是否含有一根失效线。整个译码器的测试要求取数次数约（n+2）2n 次,并基于“非创造”（noncreative）网络的概念,限制译码输出线的失效类型。测试过地址寄存器和译码器之后,证明其不存在故障,郡么再采用普通的读/写技术测试数码寄存器和存储器阵列。