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采用ＶＯＣｌ２的盐酸溶液等体积浸渍ＳｉＯ２载体的表面反应方法制备了键联型Ｖ２Ｏ５－ＳｉＯ２（ＶＳＯ）表面工外光谱法（ＩＲ）研究了其表面结构状态以及对Ｃ２Ｈ６的化学吸附性能；并利用程序升温还原技术（ＴＰＲ）考察了该表面复合物载体对负载金属Ｐｄ、Ｃｕ氧化物还原过程的影响。结果表明，ＶＳＯ具有类同于载体ＳｉＯ２的孔结构和机械强度；ＶＳＯ对Ｃ２Ｈ６有一定的化学吸附能力，Ｃ２Ｈ６分子Ｃ－Ｈ键中的Ｈ吸附在ＶＳ