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目的 研究学生在紧张学习记忆状态下记忆分值和脑涨落图（ＥＴ）Ｓ谱线的变化。方法 采用临床记忆量表测定了２０名高中三年级学生记忆分值；利用北京中国华最国际公司生产的脑电超慢涨落图（ＥＴ）仪检测在学习记忆状态下Ｓ谱系变化结果 １．学生在紧张的学习记忆状态下记忆分值产高，Ｓ２、Ｓ３ 较安静状态活跃。２．Ｓ２系有明显的左脑优势。结论 ＥＴ可用来检测脑功能并能评价脑的记忆效率。