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研究了BGO晶体固／液边界层及其两侧晶体和熔体的高温拉曼光谱，分析了BGO晶体生长固／液边界层以及边界层两侧晶体和熔体的结构特征。结果显示，桥氧键Bi-O-Ge和O-Bi-O在晶体和边界层中都存在，而在熔体中消失。说明[GeO4]和[BiO6]结构基团在晶体及边界层中都存在，边界层中的结构已接近晶体结构；但在熔体中[GeO4]结构基团和BP却是两种独立的存在，长程有序的晶体结构消失。并首次报道了BGO晶体固／液边界层的厚度约为50μm。