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2016年1月18日，中国上海徽技术工业研究院（SITRI）作为致力于“超越摩尔”半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心，宣布与美国国家仪器公司（National Instruments，简称N1）签署合作，联合成立“射频及微波芯片（RFIC／MMIC）测试技术联合实验室”，通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作，进一步提升上海微技术工研院的研发能力，引领我国RFIC／MMIC测试技术迈向国际化水平。