论文部分内容阅读
本文在简略地回顾ＤＦＴ技术发展过程的基础上，通过比较ＤＦＴ和ＳＦＴ，阐述了开发高级测试综合工具的重要性，给出了高级测试综合的基本概念和基本流程。
测试在高级综合中的应用
【摘 要】
：
本文在简略地回顾ＤＦＴ技术发展过程的基础上，通过比较ＤＦＴ和ＳＦＴ，阐述了开发高级测试综合工具的重要性，给出了高级测试综合的基本概念和基本流程。
【机 构】
：
哈尔滨工业大学微电子中心
【出 处】
：
微电子测试
【发表日期】
：
1997年2期
其他文献
外观简洁,传输速率很快,平均寻道时间和CPU占用率都比较低,采用WSS游丝悬挂系统,使读盘更快更稳定,整体性能表现不错,非常适合办公室和家庭用户选择。
适用于Java和多媒体环境,可存取数据、声音和图象,并首次采用计算微处理器的计价方式, 取代以往按照使用者数目的授权价格。
<正> DDR内存性能在不断提高,价格却在走低,性价比更为突出,取代SDRAM只是时间问题了。这款Kingmax DDR333,容量为256MB产品技术特点采用TinyBGA封装技术,速度达到333MHz,容
按照英特尔这样子的脚步,看来不需要等到年底,各位就可以亲眼目睹个人计算机最高主频为2GHz CPU的诞生.面对此次英特尔送测的这一块1.8GHz的Pentium 4微处理器,不禁要让我们
<正> ESD是潜在的电磁干扰源,通常情况下难以预测,并且严重的FSD现象会产生高能EMI脉冲,可以扰乱附近电子系统的工作。当未接地的ESD敏感的(ESDS)设备接地时会引发ESD现象,从
这款游戏使用了精美的图片和优美动人的音乐,加上精美的包装和包含大量经典图片、MIDI和音乐的纪念光盘,绝对值得广大游戏爱好者收藏。
借助Athlon优异的体系结构以及强大的计算能力,AMD终于在微处理器市场中站稳了脚跟。而后续推出的Duron 600微处理器,更是大举攻下了低档计算机市场的大片江山。
<正> IC在交付给客户前必须经过测试,以检验IC在制造过程中是否产生了缺陷。制造缺陷有很多种,人们可以用一种故障模型来描述其逻辑性能。由输入激励和可预期输出组成的测试