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以苹果砧木实生后代单株为试材,研究低温胁迫下苹果砧木实生后代枝条电阻抗（EIS）参数（胞外电阻率re、胞内电阻率ri、电阻率r1和弛豫时间τ）的变化,并分析电阻抗图谱法和常规的电导法测定的苹果砧木抗寒性的相关性。结果表明,随着温度降低,苹果砧木枝条的胞外电阻率re、胞内电阻率ri、电阻率r1和弛豫时间τ均减小。以苹果砧木枝条的EIS参数电阻率r1、胞外电阻率re、胞内电阻率ri求得的抗寒性与EL法测定的抗寒性呈显著性正相关（r=0.838～0.906）。r1测定的苹果砧木枝条的抗寒性与EL法测定的抗寒性相