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目的 分析氟化锂探测器在测量质子时的厚度效应。方法 在比较理想与合理的假设下，利用探测器吸收剂量的定义推导计算。结果 质子能穿透探测器时，探测器厚度效应不明显；当质子能量大于１２ＭｅＶ时，只是当探测器厚度接近于质子射程时其厚度效应才较为明显，小于１２ＭｅＶ时，探测器没有厚度效应；质子不能穿透探测器时，探测器厚度效应较为显著。结论 测量低能质子的剂量时，应选用较薄的ＬｉＦ探测器，以避免其厚度效应的影