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针对DD6单晶叶片射线检测底片上出现的一些疑似缺陷，作者从理论分析和具体实验两方面进行了研究。从叶片的材料性能和铸造角度分析，DD6单晶叶片可能存在孔洞类的内部冶金缺陷。而设计的具体实验则是将收集的11片叶片样品进行解剖，并将断面与其射线底片进行对比，得出结论：这些疑似缺陷并不是金属内部冶金缺陷，而是表面缺陷。