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二叉决策图(BDD)是一种数据结构,广泛应用于数字电路的逻辑综合、测试和验证等领域。将BDD每个结点映射成2选1数据选择器(MUX)可得到BDD映射电路。该文提出一种BDD映射电路的面积和延时优化方法。首先把待优化电路转换成BDD形式,然后逐一搜索BDD中存在的菱形结构,进而通过路径优化实现结点的删减和控制变量的更改,并将所得结果BDD映射成MUX电路,最后用多个MCNC基准电路进行测试,将该文方法与经典综合工具BDS, SIS等方法相比较,BDD总结点数比BDS减少了55.8%,映射电路的面积和延