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超深亚微米技术（VDSM）和基于芯核的设计给芯片系统（System—on-a-Chip，SoC）测试和验证带来了测试难、验证复杂等新问题。文章对SoC设计特点、可测试性设计分类以及SoC测试访问机制（TAM）进行了深入综述，并讨论了传统集成电路（ASIC）验证方法的特点和SoC验证面临的问题；重点讨论了模块级验证、断言和形式验证技术、Farm技术和覆盖率分析以及基于随机测试激励等几种提高SoC验证功能的技术。