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用电化学沉积方法，在有机介孔模板上制备出直径为90nm的金纳米线，透射电子显微镜（TEM）分析结构表明，纳米线表面光滑并呈单晶结构，去除有机模板的金纳米线阵列用扫描电子显微镜（SEM）测试，纳米线顶端呈平台状，直径分布均一，我们利用原子力显微镜（AFM）测量了金纳米线阵列的微观结构，得到与SEM相一致的结果，在大气和室温条件下，用导电AFM针尖在接触模式下测量了单根纳米线的轴向I－V特性曲线，其结果为金属性。