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用图像增强CCD摄像机测量了单向表面放电型AC PDP单元中Xe^*(3P1)共振发射的147nm VUV以及He-Xe放电产生的连续光谱的时间变化。共振辐射的详细测量呈现出强压力增宽,快速升到它的峰值以及具有多时间常数衰减的现象。衰减时间常数,共振相对强度和二聚物辐射是随总气压以及Xe含量的变化而变化的,这就意味着:碰撞激发, 激