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研究了气溶胶粒子的基质辅助激光解吸附电离质谱,在基质对分析物的摩尔比较高时,同时出现了基质和分析物离子峰;在基质对分析物的摩尔比低于5:1时,出现了基质抑制效应.基质抑制效应可以产生高质量的质谱,即:质谱中分析物信号较强,基质信号很弱或者消失.因此,利用基质抑制效应,可以检测低分子量的分析物.