退火对硅中氧化应力及SiO2膜电特性的影响

来源 :华南理工大学学报:自然科学版 | 被引量 : 0次 | 上传用户:nxbys
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利用红外激光光弹测量系统和森纳蒙特补偿法,测量了硅中的氧化应力;研究了中间退火和后退火条件对硅中氧化应力的影响,以及氧化应力与SiO2膜的电击性和固定电荷密度的关系。
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