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随着高速集成电路的发展，对时滞测试的研究越来越重要了，时滞测试的主要困难来自于与电路的门数成指数增长的庞大通路数，以及大量的时滞不可测通路。本文提供了一种使用双倍可变观测点进行时滞测试的方法，保证了只需要测试少量通路就能完成整个电路的时滞测试，它所付出的代价是：对每一个测试向量对，测试仪需要在原始输出采样两次以确定预期跳变的传输时间，此方法所需测试的通睡数与被测电路的门数成线性增长关系，从而很大程