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为解决复杂芯片的测试与调试问题，提出支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上，利用上位机进行软件编程，通过QuartusⅡ平台进行IP核的开发，成功设计出了支持IEEE1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明，控制器能够产生符合IEEE1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。