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为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法－临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）。本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面，介绍ＣＰＴＴＧ的主要思想和关键技术。文中给出了ＣＰＴＴＧ对国际通用的１０个组合电路范例的实验结果，表明了ＣＰＴＴＧ可以在较短时间内获得具有较高故障覆盖率的较小测试集。