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少子寿命是PIN二极管的重要参数,对二极管的正向压降和开关时间有很大的影响.阶越反向恢复法是常用的测试少子寿命方法之一.本文通过分析电荷控制方程得到了更精确的表达式,并用这种方法计算了储存电荷法的公式.表达式用MEDICI器件模拟软件进行了验证.结果表明与目前常用的方法相比,本文的方法具有更好的精确性,而且简单易行,适合实际应用.