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通过光学显微镜、扫描电镜观察及能谱分析等方法,分析研究了叠层片式压敏电阻器(MLV,mutilayer varistor)的微观结构.实验结果表明,在半成品叠层片式压敏电阻器的微观结构中 ZnO 晶粒较小且不均匀, 结构较疏松,强度差。而成品由于进行了低温液相烧结, 其微观结构则为较规则的 ZnO 晶柱,晶粒变大尺寸较为均匀,致密度明显提高。由于在陶瓷叠片上内电极浆料分布不均匀或电极印刷的原因,经过烧结后个别地方可能出现内电极层的缺损,以至现察到的内电极是断续的.同时观察到空洞可影响到内电极和外电极的连接, 以及电极变形等现象.这些缺陷结构的形成与叠层片式压敏电阻器的制作工艺有关.