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<正> ASIC(专用集成电路)测试技术的特点,和门阵列电路一样,在于自动设计。目前仍然是这样:在前端设计结束以后,和掩模制造处理作业一起,在时间有限的试制开发周期之内完成测试程序的编制工作。因此,需要开发用于前道工序的模拟技术、P ＆ R工具的设计方法、以及同DFT(诊断功能测试程序)技术密切相关的测试自动设计工具。