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采用分子动力学模拟的方法研究了200K下过冷水的结构随电场强度增加的变化情况。通过采用径向分布函数和键对分析方法得到了在0~1010v/m 范围内7个不同强度电场作用下系统中过冷水结构的变化,结果表明电场强度的改变对系统中水分子团簇的结构有着明显的影响。电场强度的增加促进了系统的短程有序性。通过结构分析表明电场强度在0~1010v/m 范围内系统仍处于液态而没有发生结晶,但当电场强度增加到1011v/m 或过冷度降低到T=100K时系统发生了结晶。此外,还得到了电场的存在对系统氢键结构的影响,并且在模拟时间范围内(5ns)得到了非常有序的氢键结构。