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本文根据美国计算机设计与测试(Design&Test of Computers)1993年第1、2期连载的“A Tutorial on Built—in Self—test”,并参照文献编译此简介。说明内建自测试(BIST)的原理与应用。上篇为原理,提出了有关BIST的问题与经济情况,并介绍了有关的层次化测试结构。说明了测试产生与响应分析的基本BIST概念。上篇还补充了线性反馈移位寄存器(LFSR)原理与应用的讨论。下篇将包括BIST硬件实现、应用与工具。为了使对数字系统的测试与诊断能够快速并有效地进行,