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<正> 利用探针可研究材料表面的局域性质。对探针进行扫描同时进行精确的反馈控制就可获得材料表面性质的高分辨率图象,据此已发展起来了一系列新型的扫描探针型显微仪器。其中最具有代表性的就是扫描隧道显微镜(STM),它的出现对该领域的发展起到了极大的推动作用。扫描力显微镜(SFM)就是近年来在STM基础上发展起来的又一类新型扫描探针分析仪器。它通过在扫描样品的同时测量带尖端的力敏感元件与样品表面局部区域的相互作用力(或