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缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题。本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法。介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点，讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性。阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用。为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法。