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系统研究了xAg—La0．67（Ca0．65Ba0．35）0．33MnO和xPd—La0．67（Ca0．65Ba0．35）0．33Mn03（xAg-LCBMO和xPd—LCBMO）两种复合体系的电特性和磁电阻特性．结果发现，Pd和Ag的掺杂都引起电阻率的大幅降低和峰值电阻率温度的升高，这主要源于晶粒边界／表面良导体金属晶粒的析出．另外，Pd和Ag的掺杂都引起室温磁电阻的大幅增强．尤其是27％摩尔比的Ag掺杂诱导了高达70％的室温磁电阻，几乎是未掺杂母体LCBM0的10倍，而27％摩尔比的Pd掺杂诱导产生了