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在硒盐胁迫下通过根弯曲特性筛选获得拟南芥（Arabidopsis thaliana）耐硒突变体,并以突变体为母本与野生型（Ler）杂交获得基因型完全杂合的F1代;自交产生的F2代硒敏感,硒耐受的分离比为3∶1,表明该突变体是隐性单基因遗传。F2代选出132株具有耐硒特性的植株作为图位克隆的群体,从应用SSLP和In/Del分子标记进行基因定位,通过分析目的基因与各分子标记之间的连锁关系,发现耐硒突变体基因位于第I号染色体F12P19和NGA111的分子标记之间。