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本文从范德玻尔(van der Pol)方程出发,导出了描述延迟自差拍法谱宽测量的公式。讨论了各结构参数对测量的影响。报道了用该法对单频半导体激光器测量的一些结果。
半导体激光器谱宽的测量研究
【摘 要】
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本文从范德玻尔(van der Pol)方程出发,导出了描述延迟自差拍法谱宽测量的公式。讨论了各结构参数对测量的影响。报道了用该法对单频半导体激光器测量的一些结果。
【机 构】
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桂林光通信研究所
【出 处】
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中国激光
【发表日期】
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1987年14期
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