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运用脉冲高能量密度等离子体，在室温下制成立方氮化硼薄膜，沉积薄膜的衬底材料分别选用单昌硅，氯化钠和ＧＣｒ１５轴承钢，用扫描电镜，透射电镜，红外吸收谱仪，扫描Ａｕｇｅｒ微探针等对沉积的薄膜进行了分析与测试，结果表明，氮化硼薄膜的结构及性质强烈地依赖于实验条件。
室温低压下脉冲等离子体生长立方氮化硼薄膜
【摘 要】
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运用脉冲高能量密度等离子体，在室温下制成立方氮化硼薄膜，沉积薄膜的衬底材料分别选用单昌硅，氯化钠和ＧＣｒ１５轴承钢，用扫描电镜，透射电镜，红外吸收谱仪，扫描Ａｕｇｅｒ微探针等对沉积的薄膜进行了分
【机 构】
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中国科学院物理研究所
【出 处】
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金属学报
【发表日期】
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1995年11期
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