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随着半导体工艺技术的不断进步,芯片制造中的工艺变量,越来越难以控制。于是,数字电路后端设计对时序分析提出了更多的要求。越来越多的进程、电源电压、温度（PVT）等工艺角（corner）传统的静态时序分析方法（STA）变得越来越难以精确地估计制程变异（variation）对于设计性能的影响。在本文中,将会介绍一种新的基于统计学的时序分析方法：Statistical Static Timing Analysis （SSTA）。通过一组附加的数据：精确的制程变异描述文件、统计学标准的库文件,SSTA有望在未来取代