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以电熔镁砂和锆英石为原料，研究锆英石质量分数和烧成温度对镁锆质试样物理性能的影响，利用X射线衍射、扫描电镜及能谱分析等手段对试样的物相组成和显微结构进行分析。结果表明，当锆英石质量分数为20％、烧成温度为1650℃时，镁锆质试样具有最佳的物理性能；当锆英石质量分数超过20％，试样的物理性能和热震稳定性开始下降。试样的主要物相由t-ZrO2、方镁石和镁橄榄石组成，t—ZrO2晶粒与MgO晶粒交错分布，形成二相结构。