论文部分内容阅读
以减少系统芯片SOC测试时间为目标，研究了层次型SOC的多层次TAM优化问题。根据嵌入式IP核的分类，将层次型SOC测试结构优化转变成了平铺型SOC测试结构优化，并建立了基于量子进化算法的数学模型。通过对群体的观测，决定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体，实现了包含TAM-ed且wrapped的嵌入式核的层次型SOC测试结构优化。针对国际标准片上系统芯片验证表明，与GA、ILP和启发式算法相比，该算法能够获得更短的测试时间。