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通过运用近红外透射光谱技术快速分析了苹果的糖度和硬度,使用偏最小二乘法建立预测模型,得出校正集苹果糖度的最佳主因子维数为3,相关系数R为0.9943,校正标准差为0.2476;校正集苹果硬度交叉校验的最佳主因子维数为3,相关系数R为0.9644,校正标准差为0.3529。研究结果表明：运用近红外透射光谱技术可以准确地无损快速定量分析苹果糖度和硬度。