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分析了芯片级测试的特点以及与传统板级测试区别,对SOC测试结构的核心部分测试访问机制(TAM)和Wrapper进行了详细的论述,分析了系统级芯片的测试结构及其优化.
基于IP核的芯片级测试结构研究
【摘 要】
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分析了芯片级测试的特点以及与传统板级测试区别,对SOC测试结构的核心部分测试访问机制(TAM)和Wrapper进行了详细的论述,分析了系统级芯片的测试结构及其优化.
【机 构】
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桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
【出 处】
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半导体技术
【发表日期】
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2005年9期
【基金项目】
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国家部委计划，广西科技厅科研项目
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